四探針測(cè)試儀是一種精確的電阻率測(cè)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子和材料科學(xué)領(lǐng)域。本文介紹四探針測(cè)試儀的使用方法、誤差來(lái)源及其在實(shí)際應(yīng)用中的重要性。

四探針測(cè)試儀的正確使用步驟

確定四探針測(cè)試儀的線(xiàn)纜連接正確，儀器狀態(tài)正常，并進(jìn)行預(yù)熱。

使用螺旋測(cè)微器測(cè)量圓形單晶硅片的厚度，使有效數(shù)字位數(shù)正確。

使用游標(biāo)卡尺確定測(cè)量點(diǎn)，在距圓心本直徑處測(cè)量硅片的電阻率。

在距邊緣5mm或6mm處測(cè)量碎片電阻率。

對(duì)比不同位置所測(cè)得的電阻率值。

四探針測(cè)試儀的誤差分析

系統(tǒng)誤差可能包括視差、刻度誤差、磨損誤差、接觸力誤差、撓曲誤差、余弦誤差、阿貝誤差、熱變形誤差等。

隨機(jī)誤差則是指在重復(fù)測(cè)量過(guò)程中出現(xiàn)的不可預(yù)測(cè)的誤差。

四探針測(cè)試儀的優(yōu)勢(shì)

四探針?lè)y(cè)量電阻率具有許多優(yōu)點(diǎn)，如無(wú)需校準(zhǔn)，有時(shí)甚至用于其他方法測(cè)量電阻率的校準(zhǔn)。與二探針?lè)ㄏ啾龋奶结樂(lè)ㄌ幚頂?shù)據(jù)更為簡(jiǎn)單，且能同時(shí)測(cè)量電流值和電壓值，測(cè)量結(jié)果更為準(zhǔn)確。

公司產(chǎn)品與服務(wù)

我司提供多種型號(hào)的四探針測(cè)試儀，如SZT-2c四探針測(cè)試儀不僅在國(guó)內(nèi)各高校、材料研究實(shí)驗(yàn)室，更是遠(yuǎn)銷(xiāo)海外。在海內(nèi)外科研、生產(chǎn)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵且重要的作用。

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